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coc老化測試機
產品特點? 每個抽屜的溫度可獨立控溫，每個抽屜可獨立加載驅動電流，可實現多溫區，多品種，多過程老化? 支持3A脈沖式電流、1us窄脈寬加電老化? 單層老化箱可獨立使用，也可通過機架組合增加老化規模，更加靈活? 支持輸出功率在線監測功能，每個抽屜都可以選配此功能? 選配N2填充保護，支持氣密型LD COC的老化? 魚骨形夾具設計，兼容前端貼片，打線工藝，整個過程無需人工轉料? 加熱結構屬于平面加熱結構，有效提高夾具的溫度均勻性? 完善的數據庫，支持本地數據庫以及遠程服務器SQL數據庫，實時記錄老化過程中的數據，并支持數據曲線回看? 支持客戶MES系統? 系統選配UPS，防止工廠意外斷電? 系統自鎖結構，上電后自鎖，防止員工意外熱插拔老化主機參數指 標系統規格單抽屜支持COC數量支持夾具定制，每個夾具支持的數量與COC尺寸和加電電流大小相關抽屜個數4~40抽屜DUT發熱功率＜32W電參數直流電流范圍0~2A直流電壓范圍0~4V脈沖電流范圍0~3A脈沖峰值電流檢測范圍0~3A脈沖峰值電壓檢測范圍0~5V脈沖加電特性脈寬：1us~20us可調占空比：0.01%~10%可調光參數 前光峰值功率監測0~0.1mW,精度0.5%rdg±1uW0~1mW,精度0.5%rdg±5uW0~10mW,精度0.5%rdg±50uW0~500mW,精度0.5%rdg±2.5mW波長范圍：850~1700nm溫控參數溫度范圍RT+20℃~120℃，更高溫度可定制升溫速度典型值：4°C/Min溫度穩定性±0.5°C，典型值@100°C溫度均勻性±1°C，典型值@100°C上位機共享共享dll數據庫系統自帶SQL數據庫，支持客戶MES系統對接在位檢測支持安全防護EOS緩慢上下電無過沖ESD防靜電設計安裝需求指 標備注系統電源AC 220V 50HZ兩相三線制額定功率10KW工作環境溫度25℃±2℃主機占地4㎡氮氣用量500L/h氧含量≤1% -
STS半導體測試設備
產品可測試：功率放大器 (PA ，PowerAmplifier) 、雙工器(Duplexer) 、射頻開關 (Switch) 、濾波器 (Filter) 、低噪放大器 (LNA ，LowNoiseAmplifier) 等部件】 ,可以提供 完整的射頻功率器件CP (晶圓)及FT量產測試方案。產品優勢：產品適合測試高性能PA (功率放大器) ，FEM ，射頻收發器；具有卓越的EVM 以達到更快的測試時間；可進行自動測試系統的高級表征測試；優化的射頻庫加速開發；模塊化架構支持靈活的未來升級路徑。 -
高精度共晶貼片設備
產品為激光器、探測器、調制器、AOC、WDM/EML TO-Can，光模塊、LiDAR、VR/AR、傳感器和光 學成像等產品的研發、生產提供“一站式”解決方案。憑借多年的行業經驗和優秀技術支持團隊， 我們為所有級別的封裝提供＊有效的系統和組裝解決方案，包括晶片芯片（CoW）,基板芯片 （CoC），PCB，TO和管盒封裝。 功 能： 自動蘸膠；自動更換吸頭； 藍膜取片； 填充工藝氣體； 基板加熱。關鍵參數： ＊高貼裝精度±2um； ＊高貼裝角度±0.1°； 加熱臺溫度 25-550℃； 貼裝壓力 15-150g。行業應用： 適用于5G通訊芯片COC、高功率 激光芯片、激光器等芯片共晶組裝 全金屬殼多芯片共晶貼裝 砷化鎵（GaAs）和氮化鎵（GaN） 模片的金錫（Au/Sn）粘結。型號ModelGJ04-03GJ05-03工藝兼容性適用于多芯片共晶貼裝適用于一對一，一顆芯片對基板的共晶 鍵合UPH120 (根據具體焊接芯片數量以及 需求)200 (COS)放置精度Placement accuracy±3um @3 σ±3um @3 σ放置角度Placement angle≤±0.1?！堋?.25。圓晶臺Wafer table2個6in2個6in＊小吸取尺寸 Smal lest chip s ize0.15mm*0.1mm*0.1mm0.15mm*0.1mm*0.1mm焊接溫度范圍 Temperature range25-550℃25-550℃設備尺寸Size1900mmW*1400mmD*1900mmH1200mmW*800mmD*1700mmH壓力控制Pressure control閉環控制、力傳感器直接反饋可控 范圍： 15-150g閉環控制、 自動音圈控力可控范圍： 15-150g焊接功能W裝置、安全光幕保護、接地和防靜電處理工藝模塊/功能增 強Process module自動蘸膠模塊自動更換吸頭模塊芯片陳 放模塊藍膜取片模塊點膠模塊 (可選) 標識碼識別系統模塊工藝氣體模塊UV固 化模塊 (可選)自動蘸膠模塊芯片陳放模塊藍膜 取片模塊標識碼識別系統模塊工 藝氣體模塊 -
高精度數據采集儀
尚毅是高精度信號尚毅是高精度信號采集和處理優秀供應商。我們在信號領域提供電壓、電流、溫度、阻抗等多種信號采集和處理“一站式”解決方 案。 設備參數 Specifications型號 ModelSunyee2024-40電源 Power Supply5V/2A Isolation通訊 CommunicationRS232電壓 VoltageRange：±24Vdc；Accuracy：0.01V電流 CurrentRange：0-2A；Accuracy：0.00001A溫度 TemperatureRange：-55C-120C；Accuracy：0.1C電阻 ResistanceRange：1 Ω-110MΩ； Accuracy：0.1%電阻測量激勵方式交流激勵法/直流激勵法保護等級 ProtectiveClass Ⅰ防護等級 Ingress protectiveIP20工作溫度 Temp-25C~60C尺寸 Size280×220×60 (mm)重量 Weight2.5Kg 可選組合(非標配)Optional combinatio1. 3/4G 無線傳輸模塊/ 3/4G module is optional2. Rs485 optional3. 默認每組信號 10 通道， 可根據客戶要求定制/Bydefault, each group of signals has 10 channels, which can be customized according to customer requirements -
濾波器測試機
產品描述受益于通信技術升級，射頻濾波器的需求和價值快速上 升，尚毅測控針對這一市場需求，推出了Filter Test System，滿足了濾波器的實驗室及量產測試，提供完整的濾波器測試方案。應用場景l 支持3-site濾波器并測/2-site雙工器并測/1-site四工器測試l 可掃描頻率和信號功率l 兼容轉塔式和平移式分選機，包括SRM，EPSON，?川，金海通等l 支持多臺分選機同時工作，采用pingpong模式或者simultaneous模式，TTL接口連接分選機軟件功能指標范圍X106測試機標配6個RF端口，頻率范圍為9kHz-20GHz，動態范圍 140dB，頻偏±7ppm以內。中頻帶寬1Hz-15MHz，點數支持1點-50001點。優勢X106測試機專為濾波器測試優化了測試架構，降低了鏈路復雜度，因 此信號質量高，性能更加出色，確保了測試的穩定性、一致性和可靠性。擁有 超快的測試速度和超高的性價比。單site UPH＊高可達20k，雙siteUPH＊高可達40k。 -
高速AD/DA測試機
產品描述數據轉換器(ADC/DAC)測試系統解決方案覆蓋INL、DNL、SNR、THD、IDD、IDDQ與電 壓高/低臨界測試。半導體測試平臺可讓工程師建構高效半導體測試系統。這些系統可縮短開發時 間并減少設備體積，滿足日趨復雜的測試需求。 -
GaN PA加速老化測試機
產品描述加速老化測試是評估IC可靠性的一項關鍵性基礎測試，它采用電應力加速的方式模擬器件的?期運行。因 為測試中應用的電激勵反映了器件工作的＊壞情況，使用測試過程基本上模擬運行了器件的整個使用壽命。功能可支持JESD22標準GaN器件所有上電實驗類型，包括HTOL、HTRB、IOL、THB實驗，部分實驗無需焊臺、溫 箱、溫循設備等輔助加熱設備，極大節省設備采購和使用成本;可輸出480路可調柵壓信號，同時支持＊多480只GaN單管同時實驗，可同步進行多個Lot多個樣本實驗;特有功放管失效監控機制，在一定范圍內可通過指示燈反應功放管是否失效(柵極短路);帶有柵壓步進操作程序，能按照推薦步進統一調整柵壓，大大降低器件在實驗過程中開啟?限變化需要調整柵壓 的時間開銷，極大提升操作效率，同時帶有＊多15個溫度傳感器，支持＊多3塊射頻板四周及中間部分溫度讀 取;帶有外部接口，可采用信號發生器靈活配置IOL實驗的開關周期，能直接驅動48V?扇，并提供外部控制信號控制 220V?扇的繼電器，無需溫循設備即可達到功放管結溫周期變化100°C以上;射頻板支持外供統一柵壓和高漏壓，無需控制板可單獨配置HTRB、THB實驗環境;射頻板為一次性消耗品，需根據用戶需求定制開發，可支持陶封、塑封GaN器件，支持表貼和沉槽安裝等安裝方 式。優勢 供電簡單，極大減少功放管柵壓單獨供電的設備需求，以及串行實驗帶來的時間開銷;操作簡單，易于監控溫度，可直接根據熱阻推算功放管結溫，實驗中各只功放管溫度相差5°C以內，可根據實際溫度任 意調整功放柵壓，且有記憶存儲功能，便于＊＊控制功放管工作狀態以及問題反查。
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