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產品描述
數據轉換器(ADC/DAC)測試系統解決方案覆蓋INL、DNL、SNR、THD、IDD、IDDQ與電 壓高/低臨界測試。半導體測試平臺可讓工程師建構高效半導體測試系統。這些系統可縮短開發時 間并減少設備體積,滿足日趨復雜的測試需求。