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  3. 電子半導體
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高速AD/DA測試機
2022-05-30
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產品描述

數據轉換器(ADC/DAC)測試系統解決方案覆蓋INL、DNL、SNR、THD、IDD、IDDQ與電 壓高/低臨界測試。半導體測試平臺可讓工程師建構高效半導體測試系統。這些系統可縮短開發時 間并減少設備體積，滿足日趨復雜的測試需求。

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