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產品描述

加速老化測試是評估IC可靠性的一項關鍵性基礎測試，它采用電應力加速的方式模擬器件的?期運行。因 為測試中應用的電激勵反映了器件工作的＊壞情況，使用測試過程基本上模擬運行了器件的整個使用壽命。

功能

可支持JESD22標準GaN器件所有上電實驗類型，包括HTOL、HTRB、IOL、THB實驗，部分實驗無需焊臺、溫 箱、溫循設備等輔助加熱設備，極大節省設備采購和使用成本;

可輸出480路可調柵壓信號，同時支持＊多480只GaN單管同時實驗，可同步進行多個Lot多個樣本實驗;

特有功放管失效監控機制，在一定范圍內可通過指示燈反應功放管是否失效(柵極短路);

帶有柵壓步進操作程序，能按照推薦步進統一調整柵壓，大大降低器件在實驗過程中開啟?限變化需要調整柵壓 的時間開銷，極大提升操作效率，同時帶有＊多15個溫度傳感器，支持＊多3塊射頻板四周及中間部分溫度讀 取;

帶有外部接口，可采用信號發生器靈活配置IOL實驗的開關周期，能直接驅動48V?扇，并提供外部控制信號控制 220V?扇的繼電器，無需溫循設備即可達到功放管結溫周期變化100°C以上;

射頻板支持外供統一柵壓和高漏壓，無需控制板可單獨配置HTRB、THB實驗環境;

射頻板為一次性消耗品，需根據用戶需求定制開發，可支持陶封、塑封GaN器件，支持表貼和沉槽安裝等安裝方 式。

優勢

?? 供電簡單，極大減少功放管柵壓單獨供電的設備需求，以及串行實驗帶來的時間開銷;

操作簡單，易于監控溫度，可直接根據熱阻推算功放管結溫，實驗中各只功放管溫度相差5°C以內，可根據實際溫度任 意調整功放柵壓，且有記憶存儲功能，便于＊＊控制功放管工作狀態以及問題反查。